32.768KHz晶振测试仪

　　CX-118A型晶振测试仪

　　1．概述

　　CX-118A型晶振测试仪使用微处理器技术，实现了智能化测量。本系列仪器采用倒数计数技术实现等精度测量。它测量精度高，灵敏度高，速度快，闸门时间可选；具有频率测量、周期测量、PPM测量、分档测量、上下限测量、累加计数等功能；中心频率（标称频率）F0、分档值Pr1～Pr8(ppm) 、上限频率FU、下限频率FL可任意设定并能存储。该机前置电路有低通滤波器、衰减器等。特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业的生产和科研之用。

　　2．主要特征

　　2．1 本机采用倒数计数技术，测量精度高，测量范围宽，真正实现等精度测量，测量速度快，灵敏度高。

　　2．2 采用单片微机技术进行周期频率测量和智能化管理，使得仪器具有很高的可靠性和优良的性能／价格比。

　　2．3 整机采用大规模集成电路设计，CPLD器件的运用，使仪器元器件大为减少，可靠性有了很大的提高，平均无故障工作时间≥10000h。

　　整机外型美观大方，体积小，重量轻，使用方便。

　　3．技术参数

　　3.1 测量范围

　　频率测量：A通道:1Hz～100MHz；

　　B通道:100MHz～1.6GHz(选件)

　　周期测量：A通道:10ns～1s

　　PPM测量：-9999～9999ppm

　　上、下限测量：可根据用户所设定的上限参数FU、下限参数FL来测量被测频率是否超出上、下限，超限则报警。

　　分档测量：根据用户所设定的中心频率F0自动进行分档测量。 分档值：Pr1～Pr8可在1～999ppm之间任意设置