CX-118A晶振测试仪 贴片试验盒

　　CX-118A型晶振测试仪

　　1．概述

　　CX-118A型晶振测试仪使用微处理器技术，实现了智能化测量。本系列仪器采用倒数计数技术实现等精度测量。它测量精度高，灵敏度高，速度快，闸门时间可选；具有频率测量、周期测量、PPM测量、分档测量、上下限测量、累加计数等功能；中心频率（标称频率）F0、分档值Pr1～Pr8(ppm) 、上限频率FU、下限频率FL可任意设定并能存储。该机前置电路有低通滤波器、衰减器等。特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业的生产和科研之用。

　　2．主要特征

　　2．1 本机采用倒数计数技术，测量精度高，测量范围宽，真正实现等精度测量，测量速度快，灵敏度高。

　　2．2 采用单片微机技术进行周期频率测量和智能化管理，使得仪器具有很高的可靠性和优良的性能／价格比。

　　2．3 整机采用大规模集成电路设计，CPLD器件的运用，使仪器元器件大为减少，可靠性有了很大的提高，平均无故障工作时间≥10000h。

　　整机外型美观大方，体积小，重量轻，使用方便。

　　3．技术参数

　　3.1 测量范围

　　频率测量：A通道:1Hz～100MHz；

　　B通道:100MHz～1.6GHz(选件)

　　周期测量：A通道:10ns～1s

　　PPM测量：-9999～9999ppm

　　上、下限测量：可根据用户所设定的上限参数FU、下限参数FL来测量被测频率是否超出上、下限，超限则报警。

　　分档测量：根据用户所设定的中心频率F0自动进行分档测量。 分档值：Pr1～Pr8可在1～999ppm之间任意设置

　　分档档数：以中心频率F0为中点左右分成16档

　　累加计数：计数容量：0～109－1 (选件)

　　计数方式：键控、门控或外门控可选。

　　3.2 输入特性

　　输入阻抗： A通道: 1MΩ//40pF

　　B通道: 50Ω

　　3.2.2 输入耦合方式：AC

　　3.2.3 波形适应性：正弦波、脉冲波

　　输入电压动态范围:

　　A通道：30mVrms～250Vp～p

　　B通道: 30mVrms～1Vrms

　　3.2.5 A通道低通滤波器：－3dB 带宽约100kHz

　　3.2.6 A通道衰减：×1或×20

　　3.3 测量误差

　　3.3.1 频率或周期测量误差：±时基误差±触发误差±LSD

　　100ns

　　其中：LSD＝─────×被测频率（或被测周期）

　　闸门时间

　　触发误差：当被测信号的信噪比为40dB时，触发误差≤0.3%

　　PPM测量误差：±时基误差±触发误差±LSD

　　其中：LSD＝(100ns/闸门时间)×106ppm

　　例如：闸门时间=1s时 LSD＝0.1ppm

　　闸门时间=0.1s时 LSD＝1ppm

　　3.3.3 计数误差：±1

　　3.4闸门时间

　　固定闸门：10ms、100ms、1s、10s 四档可选；

　　可调闸门：50ms～95ms 分10档，每档间隔5ms。

　　3.5 晶体振荡器

　　标称频率：10MHz

　　频率稳定度：5×10-6/d

　　（可根据用户需求，选配更高量级的晶振。

　　如：1×10-6/d、5×10-7/d、1×10-7/d等）。

　　3.6 外频标输入

　　输入频率：10MHz

　　输入幅度：>1Vp～p 正弦波

　　3.7 显示

　　13位0.4吋绿色高亮数码管，三个单位LED指示灯（MHz、kHz、Hz），一个闸门LED指示灯(GATE)，一个外频标LED指示灯(EXT)和一个PPM单位指示灯（PPM）。

　　3.8 电源

　　电压：交流220V±10%

　　频率：50Hz±5%

　　功耗：<8VA

　　3.9 外形尺寸：230×250×90(mm)

　　3.10 质量：<1.5kg

　　生产使用仪器，认准深圳市创鑫仪器有限公司，销售热线;

功能特点：
1. CX-118A晶振测试仪贴片试验盒采用铍铜簧片触点，接触电阻≤10mΩ，适配0603~5032全系列贴片晶振，单次接触成功率≥99.5%。
2. 内置温度补偿电路，在-10℃~60℃范围内频率测量漂移≤±1ppm，适应产线温差环境。
3. 集成ESD防护模块，空气放电耐受电压±15kV，接触放电±8kV，避免测试中静电损伤晶振。
4. 标配8种封装定位板（如3225、2520、2016），换板无需工具，耗时＜5秒，支持快速换型。
5. 与主机通过精密同轴电缆连接，在100MHz~200MHz频段内插入损耗＜0.5dB，保证高频信号保真度。
6. 具备自动扫频功能，可一键获取晶振的串联谐振频率、并联谐振频率及等效电阻参数。
7. 外壳采用铝合金CNC一体成型，表面导电氧化，经第三方测试1GHz以下屏蔽效能＞60dB。

适用行业场景：
1. CX-118A晶振测试仪贴片试验盒广泛应用于SMD晶振产线在线全检，单件测试时间≤1秒，满足每分钟60颗的产线节拍。
2. 智能手机、物联网模组等消费电子组装厂的来料批次抽样检验。
3. 汽车电子控制器中TCXO（温补晶振）的选型与可靠性筛选。
4. 通信基站主控板OCXO（恒温晶振）的频率校准与年老化率测试。
5. 科研院所对新型压电晶体材料谐振特性的实验研究。
6. 高校实验室作为电子测量教学设备，演示晶体等效电路参数与负载电容影响。
7. 第三方检测机构对晶振产品进行认证测试，如IEC 60122标准。

与其他产品对比：
对比项目 | CX-118A晶振测试仪贴片试验盒 | 普通台面晶振测试仪 | 手持式晶振测试仪
贴片适配性 | 直接适配0603~5032，无需额外夹具 | 需另购贴片夹具，接触不良率约3% | 无法直接测试贴片晶振
频率范围 | 1Hz~100MHz（A通道），选配B通道至1.6GHz | 1Hz~100MHz，无高频选件 | 通常10kHz~50MHz
接触可靠性 | 铍铜簧片，设计寿命≥10万次，插拔力稳定 | 鳄鱼夹或探针，插拔寿命＜1万次 | 探针式，接触压力不可控
测量精度（1s闸门） | ±0.1ppm典型 | ±0.2ppm | ±1ppm
操作效率 | 放入定位槽即测，单件＜1秒 | 需手工夹持，平均耗时3~5秒 | 需手持探针，操作稳定性差
抗静电能力 | ±15kV空气放电 | 无防护 | 无防护
价格 | 中等（含夹具与屏蔽盒） | 中等 | 低廉

核心优势：
1. CX-118A晶振测试仪贴片试验盒实现即插即测，操作员只需将贴片晶振放入定位槽即可完成电气接触，无需焊接或手工夹持。
2. 全贴合设计，每个引脚独立弹性触点，不损伤晶振引脚镀层，避免二次焊接导致的可靠性问题。
3. 广泛兼容性，默认8种定位板覆盖市面95%以上贴片封装，可定制特殊尺寸如5.0×3.2mm等。
4. 数据追溯功能，试验盒内置EEPROM记录使用次数、环境温度、校准日期，便于质量管理与计量溯源。
5. 降本增效，相较传统夹持方式，测试效率提升5倍，人力成本降低60%，产线直通率提高2个百分点。

选型与使用注意事项：
1. 选型时务必确认CX-118A晶振测试仪贴片试验盒配套的定位板封装代号与被测晶振一致，如2520对应2.5×2.0mm。
2. 簧片触点需定期清洁，建议每5000次插拔后用无水乙醇擦拭，去除氧化层，确保接触电阻稳定。
3. 操作前必须佩戴防静电手环，试验盒接地端应可靠接入大地，以发挥ESD防护效果。
4. 推荐测试频率范围为1MHz~200MHz，超过200MHz可能因寄生电容产生谐振偏移，需单独评估。
5. 试验盒插拔寿命标称10万次，达到后需检查簧片回弹力，若变形明显需更换定位板组件。
6. 每6个月使用标准频率校准件（如10MHz OCXO）验证测试精度，偏差超过±0.5ppm应返厂校准。

常见问题解答：
1. 问：CX-118A晶振测试仪贴片试验盒能否测试四脚有源晶振？答：可以，提供四脚定位板，并内置3.3V/5V可跳线供电，输出稳定。
2. 问：测试时频率读数频繁跳动如何排查？答：首先检查簧片是否变形导致接触不良；其次确认晶振标称负载电容与试验盒内部电容设置一致；若仍异常，可能晶振自身缺陷。
3. 问：试验盒是否兼容其他品牌频率计？答：采用标准BNC接口，输出信号幅度1Vpp，适用于50Ω或1MΩ输入阻抗的频率计，但精度以原配主机为优。
4. 问：如何更换定位板？答：拧下试验盒底部两颗M3螺丝，取出旧板，放入新板对准定位销，紧固螺丝即可，无需焊接工具。
5. 问：试验盒的屏蔽效果能否满足EMC要求？答：铝合金外壳加导电橡胶密封，经第三方检测辐射发射较裸测降低30dB，满足GB/T 9254 Class B标准。
6. 问：是否支持与自动分拣系统集成？答：可选配RS232通信模块，测量结果实时上传，配合机械手可实现自动分拣，良品率可达99.8%以上。