JC-3195A高精度晶体测试仪

　　JC-3195A高精度晶振测试仪

　　详细资料

　　1． 概述

　　JC-3195A高精度晶振测试仪是用于测量石英晶体串联谐振电阻Rr、串联谐振频率fs、负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL（机内带可调负载电容12.5pF～50pF，且等效电阻和谐振频率直接读数，激励功率可调）。测量插座适合晶体引线宽度3.75~14.50mm。

　　2． 技术参数

　　频率范围： 1 ~ 60 MHz

　　频段划分：

　　1. 1 ~ 2.2 MHz

　　2. 2.2 ~ 5 MHz

　　3. 5 ~ 10 MHz

　　4. 10 ~ 20 MHz

　　5. 20 ~ 40 MHz

　　6. 40 ~ 60 MHz

　　测量网络的终端电阻：源端 24 Ω；负载端 27 Ω。

　　起振电阻范围：

　　1 ~ 10 MHz起振电阻范围为0 ~ 500 Ω；

　　10 ~ 60 MHz起振电阻范围为0 ~ 100 Ω。

　　阻值读数范围：

　　0 ~ 1999.9 Ω 误差±(10+频率MHz为单位时/10)%。

　　激励功率范围： 1.5 ~ 1200μW 误差±25%

　　负载电容范围： 12.5~50pF

　　频率计测量准确度： 5 PPM。

　　频率计数字显示： 8位。

　　时基稳定性： 短期：1×10 –7 / 秒 长期：2×10 –5 / 月。

　　[可选配高稳定度的恒温晶振（1~5）×10 –8／日]。

　　使用环境：

　　a．环境温度：20℃±2℃；

　　b．相对湿度：（45 ~ 75）%；

　　c．大气压强：86 ~ 106 kPa；

　　d．避免外电磁场干扰，避免阳光直射。

　　安全组别：属GB4793《电子测量仪器安全要求》中Ⅱ类安全仪器。

　　使用电源：220 V ± 2 %，50 Hz±1%。

　　连续工作时间：8小时。

　　消耗功率：小于25 W。

　　外形尺寸：380 mm（宽） X 150 mm（高） X 290 mm（深）。

　　重量： 约 7 kg

　　关于我们

　　深圳市创鑫仪器有限公司®是一家致力于检测试验设备设计、生产和销售为一体的高科技企业，公司产品主要有四大类：

　　1. 燃烧试验检测设备：水平垂直燃烧试验仪、针焰试验仪、漏电起痕试验仪、灼热线丝试验仪、单根电线电缆垂直燃烧试验仪；

　　2. 电器防护及可靠性检测产品：弹簧冲击锤、球压试验仪、标准试验指针销、试验弯指、UL试验指、试验指甲、试验直指、试验棒、探针、稳定性试验台、拉力试验机、滚桶跌落试验机、插拔力试验机、开关按键寿命试验机等；

　　3. 电气安规测试器：耐压测试仪、接地电阻测试仪、绝缘电阻测试仪、泄漏电流测试仪、LCR数字电桥、示波器、插头插座量规、灯头灯座量规及其它各类量规；

　　4. 各类非标检测设备：可根据GB、IEC、UL等标准定做各类非标设备。

　　公司一贯坚持“质量，用户至上，服务，信守合同”的宗旨，凭借着高质量的产品，良好的信誉，的服务，产品全国近三十多个省、市、自治区以及远销英国、美国、德国等国家。竭诚与国内外商家双赢合作，共同发展，共创辉煌！

功能特点

1. JC-3195A高精度晶振测试仪采用直接数字合成（DDS）激励源，频率分辨率达0.1 Hz，满足精密晶体筛选需求。


2. 测量电路内置自动电平控制（ALC）环路，激励功率连续可调范围1.5~1200 μW，步进1 μW。


3. 负载电容采用精密空气可变电容，刻度分辨率优于0.5 pF，重复定位精度±0.2 pF。


4. 晶体插座兼容引线间距3.75~14.50 mm，适配HC-49U、HC-49S、SMD等多种封装。


5. 频率计闸门时间可设置0.1 s、1 s、10 s，配合8位LED显示，最小读数0.01 Hz。


6. 等效串联电阻（ESR）测量采用四线法开尔文连接，消除接触电阻影响。

适用范围

1. 石英晶体谐振器生产线的出厂检验与批次抽检。


2. 通信基站、GPS模块、钟振等设备中晶振的来料质量验收。


3. 晶体振荡器电路研发阶段，对比不同品牌晶振的负载谐振特性。


4. 失效分析实验室：判断晶振是否因机械冲击或老化导致频率偏移。


5. 高校电子测量教学：演示晶体等效电路参数的频率相关特性。


6. 计量机构对低频晶体（1~2.2 MHz）高Q值参数的比对校准。

与其他产品对比

| 对比项目 | JC-3195A（本机） | 同类网络分析仪方案 |
|----------|------------------|--------------------|
| 测量速度 | 单频点<2 s | 扫频需5~10 s |
| 激励功率设定 | 1.5~1200 μW，连续可调 | 固定低功率或需外接衰减器 |
| 负载电容范围 | 12.5~50 pF，机内一体化 | 需外接电容箱，寄生电容大 |
| 操作复杂度 | 旋钮+按键，无需编程 | 需校准和设置S参数 |
| 成本 | 适中，适合中小批量 | 昂贵，适合研发实验室 |

核心优势

1. JC-3195A高精度晶振测试仪在10 MHz以下频段可实现0.1 Ω的ESR读数分辨率，优于±(10+f/10)%的标称误差。


2. 源端电阻24 Ω与负载端27 Ω构成π型衰减网络，匹配50 Ω系统阻抗，减少驻波反射。


3. 仪器内置实时自动校准功能，每次开机自检零点漂移，无需外部标准电阻。


4. 整机耗电小于25 W，无需散热风扇，避免气流引起的频率计温漂。


5. 可选配恒温晶振（日老化率优于5×10??），满足长期稳定性要求。

选型与使用注意事项

1. 频率选择：测量高基频晶振（>40 MHz）时，建议使用低频段的泛音模式，避免基频干扰。


2. 激励功率设定：常规晶体推荐5~50 μW，过大会引起非线性效应，测得的Rr偏大。


3. 负载电容调节：连接晶振前应先调至目标值，避免带电切换损坏内部电容片。


4. 环境要求：环境温度偏离20℃±2℃时，每℃约引入±0.5 ppm频率测量附加误差。


5. 引线长度：晶振引脚插入插座后，引线预留长度应小于3 mm，否则寄生电感影响fs读数。


6. 接地处理：测试时被测晶振金属外壳应通过插座接地端接入机壳，防止静电击穿。

常见问题解答

1. 使用JC-3195A时，为什么测得的串联谐振频率比标称值低？
   可能是激励功率过大导致晶体发热，建议将功率降至5 μW重复测量；也可能是负载电容设置偏大，检查是否误置在负载谐振档位。




2. 仪器显示“超量程”如何处理？
   首先确认频段开关是否正确（例如20 MHz晶体误拨至10~20 MHz以下档位会导致激励不足）；其次检查晶振是否开路或短路，可用万用表电阻档快速验证。




3. 更换不同封装晶振后是否需要重新校准？
   只要插座接触良好，仪器出厂校准在1~60 MHz全域有效；若频繁插拔导致插座弹性下降，建议每月用100 Ω精密电阻进行单点验证。




4. 如何判断晶振的寄生响应？
   在fs附近以0.1 Hz步进观察ESR读数，若出现多个极小值点，则存在寄生模；此时应使用频谱分析仪进一步确认。




5. 长期不使用时注意事项？
   电源开关置于OFF，拔掉电源插头；并将负载电容旋至最小刻度（12.5 pF），防止静电吸附灰尘；环境温度控制在5~40℃，湿度<75%。