32.768KHz感应式晶振测试仪

　　产品概述

　　感应式32768晶振测试仪，32.768KHz晶振ppm测试仪适用于使用32768Hz晶振的电子产品时钟电路，如：智能电表、电脑主板、温控器、定时器、电子秤以及电子收款机上计时功能的精密测量。GDS-5B感应式32768晶振测试仪，32.768KHz晶振ppm测试仪附有RS232接口可与PC相连，将实时测量数据送到上位机以便修正电能表时钟误差。另配置1.0米的探头一支，以适应较大的线路板测量。

　　产品特点

　　1. 具有超灵敏的传感器使接收更灵敏；

　　2. 测量时钟采用非接触方式，秒脉中采用接触方式与电器相连

　　3. 采用拉丝氧化面板美观大方；

　　4. 内置快速处理器和TCXO（带温度补偿的基准时钟晶振）；

　　5. 对被测信号的强弱以16级电平指示使用直观明了；

　　6. 可设定上限和下限值，超过范围自动报警；

　　7. 人机对话采用旋转编码器编码，操作方便；

　　8. 精度优于0.03s/d

　　我们的优势

　　1. 质量稳定：实施全过程质量监控，细致入微，检测！

　　2. 价格合理：内部成本控制，厂家，让利于客户！

　　3. 交货便捷：生产流水线，充足的备货，缩短了交货期！

　　特性

　　1. 测量范围：多费率电子电能表、电子产品时钟电路

　　2. 电源电压：220V AC 50HZ

　　3. 测量频率：32.768KHz 1Hz

　　4. 测量周期7个可选：1秒、2秒、5秒、10秒、20秒、32秒、60秒

　　5. 基准频率：16.384MHZ TCXO

　　6. 测量精度：优于0.03s/d

　　7. 量程：五档可选，PPm(百万分之一误差率)，s/d(每日误差)，s/m(每月误差)，s/y年差，F 时钟频率误差

　　8. 信号强度指示：16级指示使用直观明了

　　9. 报警设定范围：正负200ppm

　　10. 体积：130×270×290(mm)

功能特点
1）32.768KHz感应式晶振测试仪采用非接触电磁耦合技术，无需探针直接接触焊点，避免引入寄生电容影响谐振回路。
2）内置0.1ppm级恒温晶振（OCXO），开机预热30分钟后基准频率稳定度优于±0.005ppm。
3）支持双通道同步测量：感应通道自动捕获32.768kHz基频，接触通道用于1Hz秒脉冲校准。
4）测量周期覆盖1s至120s共8档，最长积分周期可抑制工频50Hz谐波干扰。
5）具备自动增益控制（AGC）功能，信号强度在-70dBm至-10dBm范围内自动锁定。
6）内置128组历史数据循环存储，支持USB导出CSV格式报表。
7）配备彩色TFT液晶屏，实时显示频率偏差、补偿曲线及统计直方图。
8）供电采用宽电压设计AC90-264V 47-63Hz，适配全球电网标准。

适用范围
1）智能电能表（多费率/预付费表）时钟精度出厂检验与在线校准。
2）物联网终端设备（NB-IoT、LoRa节点）实时时钟模块频率筛选。
3）车载信息娱乐系统RTC晶振量产产线快速抽检。
4）医疗监护仪定时电路老化试验中的频率漂移监测。
5）工业温控器、定时插座等消费电子产品研发阶段性能验证。

与其他产品对比
| 对比项目 | 32.768KHz感应式晶振测试仪 | 传统接触式晶振频率计 |
|----------|---------------------------|----------------------|
| 检测方式 | 感应探头直接贴近晶振上方，无需焊接导线 | 需用示波器探头夹持晶振两脚或焊接引出线 |
| 负载影响 | 输入阻抗>10MΩ，耦合电容<0.5pF，不影响振荡幅度 | 探头输入电容约10pF，低频时拉偏频率可超15ppm |
| 单次测量速度 | 1秒档即可稳定读数，重复性±0.01ppm | 需多次平均，单点耗时超过15秒 |
| 抗干扰能力 | 内置窄带带通滤波器，邻道抑制>60dB | 宽带测量易受电源噪声、高次谐波干扰 |
| 适用板型 | 支持双面贴装、屏蔽罩内晶振（探头距表面≤3mm） | 需露铜或预留测试点，不适应高密度封装 |

核心优势
1）非接触式测量彻底消除探针寄生电容与回路馈通效应，测量值更接近晶振实际谐振频率。
2）感应探头兼容SMD-1610、2012、3215等全系列封装，更换被测板无需调整夹具。
3）内置低功耗蓝牙模块，支持与校准上位机无线连接，距离10米内实时回传数据。
4）自动识别被测晶振谐波并锁定基频，避免误测3次或5次谐波造成PPM偏差。
5）整机通过CE、FCC电磁兼容认证，可在变频器、开关电源旁稳定工作。

选型与使用注意事项
1）确认被测晶振标称频率是否为32.768kHz，不支持其他频率（如38kHz、40kHz）测量。
2）感应探头应垂直对准晶振本体中心，偏移角度超过15°时测量误差会增大至±2ppm。
3）被测板若包含大电容（>47pF）并联晶振，需先断开该电容再测量，否则读出负偏差。
4）环境温度变化超过±5℃/min时，OCXO跟踪补偿滞后，建议恒温静置后再校准。
5）当信号强度指示低于4格时，应缩短探头与晶振间距或清除板面残胶/漆层。
6）长期不使用建议每月通电预热2小时，以维持OCXO内部晶片老化特性稳定。

常见问题解答
如何区分测量值偏高是由探头位置偏差还是晶振本身漂移引起？
先将探头固定于标准晶振模块（已知频率偏差≤±0.5ppm），若读数与标称值相差≤±0.2ppm，则探头位置无问题；否则需调整探头角度并重新固定。被测板测量值偏高超出规格时，应逐片剔除并比对OCXO基准。

测量过程中出现数值频繁跳变的原因是什么？
常见原因是探头附近存在强电磁辐射源（如DC-DC电感、WiFi天线），可将被测板移开10cm以上；若跳变仍存在，检查接触通道的秒脉冲线是否被交流电源线平行绞绕，应改为屏蔽双绞线。

感应式测试仪是否需要定期校准？
依据JJG 349-2014《晶振频率计检定规程》，每12个月应送至有资质的计量机构校准一次，校准项目包含基准频率准确度、测量重复性和感应探头灵敏度。日常使用可每月以内部自检程序做一次比对，偏差超过0.5ppm时联系厂家处理。